1470E多通道電化學測試系統(tǒng)實驗：

　　1.多通道DC測試功能

　　1470E的每個獨立恒電位/恒電流儀通道是由的高性能數(shù)字信號處理器所控制，提供準確瞬時的測試控制、數(shù)據(jù)平均和安全限制功能。可進行較寬范圍的恒電位（電壓控制）和恒電流（電流控制）測試技術(shù)，其中包括：

　　•開路電位

　　•循環(huán)伏安

　　•恒定和掃描電位/電流控制

　　•高速電位/電流脈沖技術(shù)（如電池測試）

　　•電位/電流階躍

　　•線性極化電阻

　　•歐姆降測量（的分析等效串聯(lián)電阻ESR）

　　2.高速多通道阻抗測試

　　單正弦波相關(guān)技術(shù)

　　單正弦波相關(guān)是世界各地的研究人員*的zui準確和可重現(xiàn)的技術(shù)阻抗研究方法，尤其針對電池阻抗研究。Solartron的高性能145x頻響儀供非常高的測量速率，能在短短幾秒鐘完成從10Hz至1MHz的電池阻抗掃描！單正弦相關(guān)技術(shù)覆蓋系統(tǒng)（從10mHz至1MHz）的全部帶寬。

　　多正弦波/傅立葉變換分析

　　單正弦相關(guān)技術(shù)提供了非常快速的阻抗分析。但在較低的頻率，例如在電池擴散特性分析中，需要測量時間可能會延長，因為在每個頻率下必須至少有一個周期的波形。這可能會導致成幾個小時的測試運行。例如一個單波1mHz的測量至少需要1000秒（＞16分鐘），但是145x系列頻響儀，提供了另一種計量方法（多正弦/快速傅立葉變換FFT分析），后者可以在系統(tǒng)的整個頻率范圍內(nèi)使用，但對于低頻率的測試特別有效。

　　多個正弦波頻率同時用于測試體系，提供整個頻率范圍內(nèi)的激勵。多正弦波波形類似于隨機噪聲，但實際上是選擇的幾個波形的疊加。被測試系統(tǒng)的電位和電流波形同時被捕獲和分析，同時利用FFT技術(shù)和頻譜數(shù)據(jù)的比率，可得到在原激勵波形的頻率阻抗的結(jié)果。例如，三個數(shù)量級頻率可以同步獲得，如從1Hz到1mHz的阻抗結(jié)果，在單次測量以1mHz為帶頻的基礎(chǔ)上需要1000秒（16分鐘）。相比之下，以單正弦波從1Hz至1mHz，每數(shù)量級10個點測量，需時約80分鐘（5倍的時間）。這使得多正弦/FFT的方法非常適合對測量速度要求較高的實驗，例如，隨時間的變化的體系必須在體系變化前完成快速測量。FFT技術(shù)非?？焖?，但由于涉及到多個頻率同時測量，準確度可能低于單一正弦相關(guān)波。145x系列頻響儀為此提供了一些非常先進的設(shè)施，以幫助用戶zui大限度地減少這些影響：

　　•用戶可選擇在多波測量時的頻率；

　　•一個系統(tǒng)默認的波形頻率選擇清單，幫助客戶選擇適當?shù)念l率；

　　•自動波形優(yōu)化，盡量減少多正弦波任何雜峰。

　　頻率選擇功能，在總體激勵水平不變情況下，讓多波測量利用更少的頻率，可以降低測量噪聲，使得每個頻率有更高相對幅值。

　　頻率選擇功能，可以減少電化學體系非線性所引起的問題，并獲得對數(shù)間隔的數(shù)據(jù);給予非常相似的單正弦掃描技術(shù)的結(jié)果，同時保留了速度優(yōu)勢。